Microscopio Electrónico de Barrido (SEM)

Descripción

La microscopía Electrónica de Barrido comprende una serie de técnicas relacionadas con la interacción de un haz de electrones a medida que “barre” la superficie de una muestra. Se generan electrones secundarios (SE), electrones “backscattered” (BSE), rayos X, electrones Auger y otros elementos que proporcionan información de la topografía de la superficie, la composición y otras propiedades de la muestra. La incorporación de una fuente “Field Emission Gun” (FEG) permite obtener resoluciones por debajo de los 2 nm.


Equipamiento:

FEI Quanta 250 FEG Scanning Electron Microscope

Aplicaciones

  • Caracterización celular
  • Caracterización tisular
  • Caracterización de biomateriales
  • Caracterización de compuestos macromoleculares